ATP7510是一款基于像差校正凹面全息光柵的高性能掃描單色儀，專為科研和工業應用設計。它采用單片光學設計布局，搭配高線數精密光柵，確保在波段內實現高色散能力和超低雜散光，同時在一級和二級衍射中均具備高衍射效率，有效減少波長選擇過程中的能量損耗。該單色儀配備高精度步進電機，掃描精度優于0.01°，最高掃描速度可達200step/s，支持最大200nm/s的波長掃描速度。結合高性能光柵分光技術，ATP7510能夠實現全譜段的高精度波長選擇和分辨率。

ATP7510支持多種輸入和輸出方式，包括SMA905光纖輸入光和自由空間光，并可通過USB2.0或UART端口輸出測量數據。其僅需+5V直流電源供電，使用極為便捷。此外，該設備在科研、工業、醫療、遙感和天文觀測等領域具有廣泛的應用前景。

產品特征

波長范圍：190-5μm（三種波段可選）；

波長精度：±1nm；

波長分辨率：±0.1nm；

光譜分辨率：<5nm；

波長重復性±0.1nm（1200g/mm光柵)；

雜散光：<0.1%（典型值)；

光柵：像差校正凹面全息光柵；

F#值：F/2.95；

焦距：100mm(入射)；94mm(出射)；

電機精度：優于0.01°；

掃描速度：200nm/s；

通訊接口：USB-B；

入射狹縫：D8×100μm×2mm×0.03mm；

出射針孔直徑：0.5mm；

TTL外部觸發輸入/輸出；

產品應用

拉曼光譜；

熒光光譜；

光致發光光譜；

吸收、反射、透射光譜；

其他各類光譜應用；